偏振相關(guān)損耗測試儀

簡要描述：PDL測試儀能在30 ms內(nèi)，同時測量待測器件的偏振相關(guān)損耗（PDL），插入損耗（IL）和光功率。使用擾偏法測量的PDL具有很高的不確定性。與這種方法不同，PolaCHEXTM有條理地搜索最大和最小透過率，確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時刻的測量精度，可獲得精確的PDL值。

產(chǎn)品型號：

所屬分類：偏振分析儀

更新時間：2024-12-16

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PDL測試儀能在30 ms內(nèi)，同時測量待測器件的偏振相關(guān)損耗（PDL），插入損耗（IL）和光功率。使用擾偏法測量的PDL具有很高的不確定性。與這種方法不同，PolaCHEXTM有條理地搜索透過率，確保了具有較高和較低PDL值的器件在任何時刻的測量精度，可獲得精確的PDL值。PolaCHEX覆蓋了較寬的波長范圍：1260~1650 nm，無需波長校準(zhǔn)，比基于Mueller矩陣方法測得的PDL值更準(zhǔn)確。它帶有USB、以太網(wǎng)、GPIB和RS-232接口，用于電腦控制。能快速、精確測量與波長相關(guān)的無源器件的特性，尤其適用于制造或?qū)嶒?yàn)室中DWDM、光纖傳感元件。與PDL-101相比，PDL-201具有較快的測量速度，較大的測量動態(tài)范圍，更明亮的顯示屏，以及用于集成的附加模擬輸出端口。

主要技術(shù)參數(shù)：

備注:數(shù)據(jù)在23±5°C溫度下，10組平均值所得。精確的偏振相關(guān)損耗測試還取決于測試設(shè)置。輸入功率 ≥0 dBm，用戶自定義功率計(jì)測量模式。